手機(jī)、平板等移動電子產(chǎn)品在進(jìn)行批量生產(chǎn)前，超級電容器、電池、被動元器件在批量使用前都要?dú)v經(jīng)千錘百煉，進(jìn)行各種可靠性測試。而可靠性測試又分為環(huán)境測試，機(jī)械測試，壽命測試等。跌落試驗可以對電子產(chǎn)品或者電子元器件進(jìn)行部分可靠性功能測試。

超級電容器跌落的方式

跌落分定向跌落、自由跌落、微跌落(也叫重復(fù)跌落、短跌落)、滾筒跌落四種跌落方式。

超級電容器跌落測試目的

用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間或使用過程中可能經(jīng)受的跌落?？疾飚a(chǎn)品抗意外沖擊的能力。從而根據(jù)產(chǎn)品實際情況及國家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計。

超級電容器跌落測試介紹

1、微跌落

微跌落試驗應(yīng)用的領(lǐng)域

微跌落試驗機(jī)適用于貼片超級電容器、手機(jī)、電話機(jī)聽筒、對講機(jī)、U盤、IP3、CD、電子詞典等小型電子消費(fèi)類產(chǎn)品的能夠滿足樣品棱、角、面的跌落測試，可實現(xiàn)自動手動功能。

微跌落試驗適用標(biāo)準(zhǔn)

YD/T 1539-2006 移動通信手持機(jī)可靠性技術(shù)要求和測試方法


2、滾筒跌落

滾筒跌落試驗應(yīng)用范圍

滾筒跌落試驗適用于扣式超級電容器、手機(jī)、移動電話、PDA、電子辭典、CD、P3等各種小型輕量之可換式電子產(chǎn)品以及連接器、通控器等進(jìn)行連續(xù)回轉(zhuǎn)(落下)跌落試驗，至規(guī)定次數(shù)到達(dá)后，調(diào)查所造成損壞狀況。

滾筒試驗參考標(biāo)準(zhǔn)

滾簡測試設(shè)備滿足國標(biāo)GB/T 2423. 8-19995或IEC 60068-32, Ed2測試條件: 滾簡制作工藝滿足GB/T2423.8195附錄5標(biāo)準(zhǔn)。

3、受控跌落

受控跌落試驗設(shè)備可以對超級電容器、鋰離子超級電容器、手機(jī)、平板等微小電子產(chǎn)品進(jìn)行定向自由跌落，以驗證移動電子產(chǎn)品部分可靠性功能測試

受控跌落測試原理

受控跌落是指樣品不包裝、裝上所配套的電池，不開機(jī)，固定在一定的角度下， 放置在(1. 0±0.01)m處自由跌落在大理石表面上，以試驗產(chǎn)品的耐沖擊性。試驗中自動計算加速度，在顯示屏中顯示。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求:除允許表面有擦傷、小凹坑外、功能、外觀及裝配應(yīng)符合要求。

受控跌落測試標(biāo)準(zhǔn):滿足YD/T 1539-2006標(biāo)準(zhǔn)